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半导体热电特性综合实验仪

1.热电制冷器工作特性研究;
2.半导体热电材料的珀尔帖效应进行制冷或制热特性;
3.塞贝克效应;
4.半导体热敏电阻特性的研究;
5.金属电阻温度系数的测定;
6.PN结正向压降与温度关系的研究和应用;
7.电阻温度计与非平衡直流电桥。
规格参数:
仪器主要由控温仪、半导体致冷堆组件组成;
高精度数字智能化恒温控制,温度控制范围:加热范围:室温-120℃;致冷范围:-10℃--15℃,控温精度:0.1℃,恒温稳定度:±0.1℃;
数字温度传感器:-50-125℃,精度±0.1℃,数显
电流测量范围:0-2.400,测量精度:1mA
电压测量范围:0-24.000V, 测量精度:1mV
恒流源:0--1000uA
配PN结
配半导体热敏电阻
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